貼片加工組裝后組件檢測(cè)內(nèi)容。在表面組裝完成之后，需要對(duì)表面組裝組件進(jìn)行.后的質(zhì)量檢測(cè)，其檢測(cè)內(nèi)容包括以下幾個(gè)方面。焊點(diǎn)質(zhì)量，如橋連、虛焊、開(kāi)路、短路等;元器件的極性、元件品種、數(shù)值超過(guò)標(biāo)稱值允許范圍等;評(píng)估整個(gè)SMA組件所組成的系統(tǒng)在時(shí)鐘速度時(shí)的性能，評(píng)測(cè)其性能能否達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)。

組裝后組件檢測(cè)方法：

1、在線針床測(cè)試法CT。在SMT貼片實(shí)際生產(chǎn)中，除了焊點(diǎn)質(zhì)量不合格會(huì)導(dǎo)致焊接缺陷外，元件極性貼錯(cuò)、元件品種貼錯(cuò)、數(shù)值超過(guò)標(biāo)稱允許的范圍，也會(huì)導(dǎo)致SMA產(chǎn)生缺陷。ICT屬于接觸式測(cè)試方法，因此，生產(chǎn)中可直接通過(guò)在線測(cè)試ICT進(jìn)行性能測(cè)試，并同時(shí)檢查出影響其性能的相關(guān)缺陷，包括橋連、虛焊、開(kāi)路以及元件極性貼錯(cuò)、數(shù)值超差等，smt貼片加工廠要根據(jù)暴露出的問(wèn)題及時(shí)調(diào)整生產(chǎn)工藝。

ICT中由于針床夾具制作和程序開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)，而且價(jià)格比較高，同時(shí)由于加工針床夾具時(shí)受到機(jī)加工設(shè)備數(shù)控機(jī)床的限制，測(cè)試探針必須設(shè)計(jì)在25mm或127mm網(wǎng)格上，使得探針.小間距為127mm，因此ICT適用于一般組裝密度、大批量生產(chǎn)的產(chǎn)品。

2、飛針試法。飛測(cè)試同屬于接觸式檢測(cè)技術(shù)，也是生產(chǎn)中測(cè)試方法之一。飛針測(cè)試使用4-8個(gè)獨(dú)立控制的探針，在測(cè)單元( Unit Under Test，UUT)通過(guò)皮帶成其他UUT傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)，然后固定，測(cè)試機(jī)的探針接觸測(cè)試焊食和通路孔，從面測(cè)試UUT的單個(gè)元件。測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器和傳感器，來(lái)測(cè)試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測(cè)試的時(shí)候，UUT上的其他元件通過(guò)探針器在電氣上屏以防止讀數(shù)干擾。

飛針測(cè)試與針床測(cè)試相同，同樣能進(jìn)行電性能檢測(cè)，能檢測(cè)出橋連、虛焊、開(kāi)路以及元件極性貼錯(cuò)、元器件失效等缺陷。根據(jù)其測(cè)試探針能進(jìn)行全方位角測(cè)試，.小測(cè)試間隙可達(dá)0.2mm，但測(cè)試速度慢的特點(diǎn)，飛針測(cè)試主要適用于組裝密度高，引腳間距小等不適合使用ICT的SMA。

3、功能測(cè)試法。盡管各種新型檢測(cè)技術(shù)層出不窮，如AO、X射線檢查、基于飛針或針床的電性能在線測(cè)試等，這些技術(shù)雖然能夠有效地查找在SMT組裝過(guò)程中發(fā)生的各種缺陷和故障，但是不能夠評(píng)估整個(gè)線路板所組成的系統(tǒng)是否能正常運(yùn)作，而功能測(cè)試就可以測(cè)試整個(gè)系統(tǒng)是否能夠?qū)崿F(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)。它將表面組裝板或表面組裝板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體，輸入電信號(hào)然后按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。這種測(cè)試是為了確保線路板能否按照設(shè)計(jì)要求正常工作。因此，功能測(cè)試是檢測(cè)和保證產(chǎn)品.終功能質(zhì)量的主要方法。